Micromedic Leica Microsystems EM Provberedning -
Leica Microsystems EM Provberedning
Ytbearbetningssystem EM TXP
Ytbearbetningssystem Leica EM TXP Leica EM TXP är ett ytbearbetningssystem för fräsning, sågning, slipning och…
Leica Microsystems EM Provberedning
Jon-fräsning TIC 3X
När ytan på ett prov förbereds för SEM eller infallande ljusmikroskopi genomgår provet vanligen flera processer…
