Leica Microsystems EM Provberedning - EM övrig provberedning

Leica Microsystems EM Provberedning

Korrelativ ljus- och elektronmikroskopi (CLEM)

Kryo CLEM System   Korrelativ ljus och elektronmikroskopi (CLEM) kombinerar fördelen med fluorescensmikroskopi (FM) och elektronmikroskopi…

LÄS MER
Leica Microsystems EM Provberedning

Vävnadsprocessor TP

Vävnadsprocessorer Leica TP     Endast korrekt beredda vävnader ger användbar mikroskopisk information. Leica Microsystems vävnadsprocessorer…

LÄS MER
Leica Microsystems EM Provberedning

Tork CPD300

Proceduren för kritisk punkttorkning är en effektiv metod för torkning av känsliga prov för SEM-applikationer. Den…

LÄS MER
Leica Microsystems EM Provberedning

Automatiskt kontrastering AC20

Kontrast är ett av de mest kritiska stegen i provberedning för elektronmikroskopi. Dubbelkontrastmetoden för ultratunna sektioner…

LÄS MER
Leica Microsystems EM Provberedning

Fräs RAPID

Att förbereda inbäddade prover för ultramikrotomen är en delikat uppgift. Eftersom formen på blockytan och rakheten…

LÄS MER